產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚總光譜光通量測量系統(tǒng) HM/FM series
產(chǎn)品簡介
●可處理高達(dá)2400mm的直管光學(xué)總光通量測量●測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標(biāo)準(zhǔn)●采用新的探測器，可以進(jìn)行廣動態(tài)范圍的測量●測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從φ250毫米到φ3000毫米都能對應(yīng)●支持LIV測量，脈沖點(diǎn)測量，樣品溫度測量●兼容脈沖寬度調(diào)制（PWM）調(diào)光
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
對應(yīng)總光通量測量的所有要求
全光束測量系統(tǒng)總括
●總光通量[JISC7801：2009/JISC8152：2007] ●光譜總輻射通量（光譜）
●顏色匹配標(biāo)準(zhǔn)差（SDCM）
●色度坐標(biāo)（U，V）[CIE1960UCS] ●色度坐標(biāo)（X，Y）[JISZ8724：1997] ●色度坐標(biāo)（U’V’）[CIE1976UCS] ●相關(guān)色溫與Duv[JISZ8725：1999] ●主波長（Dominant）和激發(fā)純度（Purity）[JISZ8701：1999] ●顯色評價(jià)數(shù)（RA，R1?R15）[JISZ8726：1990]
●可以改變光源的照明方向，因此可在實(shí)際使用條件下進(jìn)行測量
●排除積分空間以外的發(fā)光部件，消除吸收誤差
●積分空間的一半亮度（靈敏度）為兩倍
●適用于表面發(fā)射光源的總光通量測量
●樣品溫度調(diào)節(jié)方便，因?yàn)槌税l(fā)光表面外，它可以放置在整體半球外面
（也對應(yīng)高功率光源）
●可消除樣品光源本身陰影的影響，是測量大樣品的理想選擇
（可對應(yīng)積分球直徑的1/3）
●與整體半球形規(guī)格一樣，可以測量2400mm的直管光源
●使用帶輔助燈泡的積分球，可補(bǔ)正自我吸收
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄?jiǎng)?chuàng)研智造C7區(qū)301室
Copyright © 2025 上海波銘科學(xué)儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽(yù)資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀
上一個(gè)：
返回列表