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產(chǎn)品中心半導體材料測試深能級瞬態(tài)譜測試深能級瞬態(tài)譜測試儀
產(chǎn)品簡介
深能級瞬態(tài)譜儀(DLTS)是檢測半導體材料和器件缺陷和雜質的最好技術手段，它可以測定各種深能級相關參數(shù)，如深能級，俘獲界面，濃度分布等。
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Cryostats LN2,低溫致冷
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